SPIE MICROLITHOGRAPHY 2012 (San Jose, CA) - Mesure - Contrôle - Test - Optoélectronique - Electronique - Contrôle et Assurance Qualité, Maintenance - Sciences de l'ingénieur

Activités	Description	Public	Périod.

Mesure - Contrôle - Test Optoélectronique Electronique Contrôle et Assurance Qualité, Maintenance Sciences de l'ingénieur - Recherche et développement	Congrès. Le futur de la lithographie optique, de la métrologie, du contrôle, du contrôle de process, des tests de résistance	Professionnel	annuel

Prochaines dates

du 12 au 16 fév. 2012	> à San Jose, CA (USA - Amérique)	> San Jose McEnery Convention Center
en fév. 2013 (?)	> à ? (USA - Amérique)

Prenez garde ! Toutes les dates sont sujettes à changement. Prenez contact avec l'organisateur avant d'entreprendre tout déplacement

Lieu

	San Jose McEnery Convention Center 408 Almaden Blvd. San Jose, CA. 95110-2715 USA +1 (408) 277-5277 +1 (408) 277-3535 Site web D'autres événéments dans ce lieu Google map

Hôtels à San Jose, CA

Organisateurs

SPIE (International Society for Optical Engineering)
PO Box 10
1000 20th St.
Bellingham
WA 98225-6705
USA

+1 (360) 676-3290

+1 (360) 647-1445
SPIE (International Society for Optical Engineering) - http://www.spie.org (en anglais)

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